Estación X(Y)Z - metrología 3D sin contacto

Referencia STI-Station3D

Plataforma X(Y)Z para laboratorio con sensor de punto o línea (área) para metrología 3D sin contacto basada en tecnología confocal cromática






Alexandre Besson
Business Unit Director
+33 5 57 10 92 84
a.besson@laser2000.fr
Solicitud de producto: Estación X(Y)Z - metrología 3D sin contactoX



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Estoy interesado en el siguiente producto: Estación X(Y)Z - metrología 3D sin contacto


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DESCRIPCIÓN DEL PRODUCTO

Estación X(Y)Z equipada con sensor confocal cromático de punto o de línea (área) para metrología 3D sin contacto

Les stations de mesure modulaires sont dédiées à la microtopographie 3D haute résolution ainsi qu'à l'analyse de formes et de textures. Elles permettent de mesurer des profils ou des surfaces d'objets, ainsi que des épaisseurs de matériaux transparents.

Les stations de mesure 3D sont composées de :

  • Une unité de déplacement comprenant 3 axes motorisés X, Y, et Z ; un ou plusieurs capteurs de mesure points ou ligne équipés avec différents outils de mesure, une ou plusieurs caméras vidéo, et en option un système permettant de changer automatiquement d'outil de mesure
  • Une unité de contrôle, comprenant un ordinateur PC équipé de plusieurs cartes spécifiques
  • Un logiciel d'acquisition de données qui permet de piloter la station via une interface homme-machine
  • Un logiciel de post-traitement

Données techniques des stations de mesure 3D :

  • Déplacements (X,Y,Z) : jusqu’à 300 x 300 x 100 mm3 (supérieurs sur demande)
  • Précision de déplacement : jusqu’à 1µm
  • Pas de mesure : jusqu’à 0.1µm
  • Vitesse de déplacement : jusqu’à 20 mm/s

Avantages des stations de mesure 3D :

  • Mesure sans contact
  • Résolution nanométrique
  • Profondeur de champ étendue
  • Ouverture numérique importante
  • Pas de speckle / Pas d’ombrage
  • Mesures sur tous types de matériaux (transparent/opaque, poli/rugueux)
  • Pas de préparation de l'échantillon
  • Large choix de crayons optiques
  • Logiciels dédiés pour les utilisateurs et les développeurs

Applications :

  • Profilométrie
  • Topographie
  • Tribologie & Mesure de rugosité
  • Analyse de planéité
  • Mesure de déformation
  • Métrologie 3D
  • Vibrométrie
  • Contrôle Qualité (carte PCB )
  • Analyse de surface
  • Contrôle d’épaisseur (mems, wafers, matériaux multicouches )

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