Analizador del perfil XY escaneo BeamR'2

Referencia DAT-BeamR2

BeamR'2 es un Sistema de ranura de escaneo XY de 190 a 2500* nm






Alexandre Besson
Business Unit Director
+33 5 57 10 92 84
a.besson@laser2000.fr
Solicitud de producto: Analizador del perfil XY escaneo BeamR'2X



Querido Besson,

Estoy interesado en el siguiente producto: Analizador del perfil XY escaneo BeamR'2


Su solicitud:

Una oferta
Información
Apelación y asesoramiento
Por favor complete al menos los campos obligatorios marcados con un *.



* Saludo:

Grado academico:

Primer nombre:

* Apellido: * Apellido:

* Nombre de la empresa: * Nombre de la empresa:

Dirección de la empresa:

* Calle: * Calle:

* Código postal: * Código postal:

* Lugar: * Lugar:


* E-Mail: * E-Mail:

* Teléfono: * Teléfono:

Texto:




* Que voyez-vous sur la photo 2?* ¿Qué ves en la imagen 2?

laserdiode laserschutzbrille laserschutzfenster leistungsmessgerät


Por favor seleccione:Por favor seleccione:    Diodo    Manómetro    Gafas de protección    Prueba de Windows   



Por favor, compruebe los campos marcados en rojo.




Su solicitud ha sido enviada exitosamente. Será contactado lo antes posible.



Alexandre_Besson.jpg


DESCRIPCIÓN DEL PRODUCTO

Sistema de ranura de escaneo XY   BeamR'2 de 190 a 2500* nm

Los sistemas de escaneo ofrecen  la mayor resolución y son adecuados para los haces más pequeños aunque para haces no gausianos los analizadores de perfil por cámara (sistemas de imagen) son la mejor elección.

Ventajas :

  • 190 a 1150 nm con detector de Silicio
  • 650 a 1800 nm con detector de Ingaas
  • 1000 a 2300 o 2500 nm con detector Ingaas (extendido)
  • Diámetros de la viga de 5 µm a 4 mm, a 2 µm en modo de filo de cuchillo
  • Puerto alimentado por USB 2.0; cable flexible de 3 m; sin ladrillo de energía
  • Muestreo y resolución de 0,1 µm
  • Perfiles lineales y logarítmicos X-Y, centroides
  • Zoom de perfil y compensación de ancho de ranura
  • Económico y de gran precisión
  • Opción M² - análisis de propagación de haz, divergencia, enfoque

 

Aplicaciones :

  • Impresión y Marcado por láser
  • Láseres médicos
  • Sistemas láser de diodo
  • Ensamblaje de fibra óptica telcom Focusing - Lensplate2™ opción para re-imágenes guías de onda y extremos de fibra
  • Desarrollo, Producción, Servicio de campo
  • CW; Láseres pulsados, Φ µm [500/(PRR en kHz)]
  • Medición de M² con platina M2DU disponible en opción 

 

Especificaciones

Longitud de onda

Detector de Si : 190 to 1150 nm
Detector de Ingaas : 650 to 1800 nm
Detector Si + InGaAs : 190 to 1800 nm
Detector Si + InGaAs (extendido) : 190 to 2300 or 2500 nm

Diámetros de haz escaneados

Detector de Si : 5 µm a 4 mm, a 2 µm en modo Knife-Edge
Detector de Ingaas: 10 µm a 3 mm, a 2 µm en modo Knife-Edge
Detector de Ingaas (extendido): 10 µm a 2 mm, a 2 µm en modo Knife-Edge

Medida del diámetro de la cintura del haz

Segundo momento (4s) de diámetro según ISO 11146; Gaussian y Tophat

1/e² (13.5%) de ancho

Porcentaje de pico seleccionable por el usuario
Modo de filo para vigas muy pequeñas

Fuentes de medición

CW; Pulsed lasers‚ Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)]

Precisión de la Resolución

0.1 µm o 0.05% de rango escaner
± < 2% ± = 0.5 µm

Potencia máxima y la irradiancia

1 W Total & 0.5 mW/µm²

Rango de ganancia

1‚000:1 Conmutado; 4‚096:1 ADC rang

Gráficos mostrados

X-Y Position & Perfil‚ Zoom x1 to x16

Tasa de actualización

~5 Hz

Pantalla de pase/fallo

Colores Pass/Fail seleccionables en pantalla. Ideal para QA y Producción.

Promedios

Media de funcionamiento seleccionable por el usuario (de 1 a 8 muestras)

Statistics

Min, Máx, Desviación, estándar media

Perfil XY y Centroid

Datos de registro durante períodos prolongados

Requisitos mínimos de PC

Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

Downloads - Analizador del perfil XY escaneo BeamR'2

22 otros productos de la categoría Procesado Láser