La tecnología de medición con láseres es extremadamente precisa y de uso cada vez más frecuente. Al no haber contacto con el objeto a medir cuando se utiliza un láser, es posible medir superficies blandas, pegajosas, calientes o sensibles. No se produce desgaste del sensor durante el proceso. El primer paso para la creación de un diseño interior perfecto es un control preciso. Los sistemas de medida láser simplifican el flujo de trabajo, permiten una transmisión precisa de los valores de proceso, y aumentan la productividad ofreciendo importantes ahorros en tiempo y costes.
Laser 2000 ofrece dispositivos de medida láser de alta precisión, compactos y robustos.
Las cámaras para análisis de perfil del haz láser (Beam Profiler) WinCamD-LCM de Dataray ofrecen gran resolución y velocidad con trasferencia de datos y alimentación por USB 3.0. Igualmente indicadas para aplicaciones de I+D e industriales
Sistema de perfilador de haz láser (Beam Profiler) de 355 hasta 1150 nm para aplicaciones con haces de gran tamaño, hasta 25 x 25 mm
Detector CMOS estándar de 355 a 1150* nm
BeamR'2 es un Sistema de ranura de escaneo XY de 190 a 2500* nm
Ópticas conversoras para analizar el perfil del haz láser en el ultravioleta (UV)
Ópticas conversoras para analizar el perfil del haz láser en el infrarrojo (IR)
Analizador del perfil del haz láser basado en un escaneo lineal. El BeamScope es el sistema más implantado para análisis general con alta resolución
Atenuador variable de 4 ruedas especialmente diseñado para aplicaciones de análisis del perfil del haz láser